掃描電鏡如何選擇適當(dāng)?shù)奶綔y(cè)器角度和方向
日期：2023-11-03
在掃描電鏡中選擇適當(dāng)?shù)奶綔y(cè)器角度和方向?qū)τ讷@得所需的信號(hào)和信息非常重要。不同的探測(cè)器角度和方向可以用于不同的成像和分析目的。以下是一些選擇適當(dāng)?shù)奶綔y(cè)器角度和方向的一些建議：
后向散射電子成像：BSE探測(cè)器通常安裝在掃描電鏡底部，以檢測(cè)從樣品返回的高能電子。探測(cè)器角度通常與電子束方向相反。這種成像通常用于獲得樣品的原子序數(shù)信息，例如化學(xué)成分和晶體結(jié)構(gòu)。
同步輻射X射線熒光成像：XRF探測(cè)器通常安裝在樣品上方，以檢測(cè)從樣品表面發(fā)射的X射線。探測(cè)器的角度和位置取決于所需的元素成分分析。
透射電子顯微鏡：在TEM中，電子束透過樣品，而不是從樣品表面反射。探測(cè)器通常安裝在樣品的底部，以檢測(cè)透射電子的投射圖像。
散射電子顯微鏡：STEM中的電子束可以在樣品上進(jìn)行定位，探測(cè)器可以以不同的角度和位置進(jìn)行安裝，以獲取不同類型的信號(hào)，例如高角度散射電子成像。
能譜分析：用于能譜分析的探測(cè)器通常安裝在樣品上方，并根據(jù)所分析的元素以及所使用的光子或電子能量進(jìn)行調(diào)整。
選擇取決于具體的研究目的，需要考慮所需的信號(hào)類型、分辨率、樣品類型和儀器配置。通常，通過嘗試不同的角度和方向來優(yōu)化圖像和分析是一個(gè)有效的方法，以獲得所需的信息。
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作者：澤攸科技