掃描電鏡有哪些變種或模式？
日期：2023-09-08
掃描電子顯微鏡有多種變種和模式，每種都適用于不同的應用和研究領域。以下是一些常見的SEM變種和模式：
常規SEM： 常規SEM是常見的類型，用于觀察樣品的表面形貌和微觀結構。它通常使用中能量電子束，并生成二次電子和反射電子圖像。
環境SEM（ESEM）： 環境SEM具有特殊的樣品室，允許在高濕度、高溫度和大氣壓力下觀察樣品。這使得可以研究生物樣品、水合物和其他不適合在常規SEM中觀察的物質。
低溫SEM： 低溫SEM通常在冷凍條件下觀察樣品，以研究生物樣品、聚合物和其他材料在低溫下的性質。
場發射掃描電鏡（FE-SEM）： FE-SEM使用場發射電子源，通常具有更高的分辨率和更好的表面拓撲學。它常用于納米尺度的樣品觀察。
透射電子顯微鏡（TEM）： TEM是一種不同于SEM的電子顯微鏡，它通過樣品來傳輸電子束，用于觀察樣品的內部結構，如細胞和晶體。
能譜SEM（SEM-EDS）： SEM-EDS結合了SEM和能譜分析，可以同時獲得樣品的表面形貌和元素成分信息。
反射電子顯微鏡（REM）： REM使用反射電子來研究樣品的表面形貌和晶體結構，特別適用于金屬和晶體材料。
低真空SEM： 低真空SEM在樣品室中維持較低的真空級別，適用于不導電或難以在高真空條件下觀察的樣品。
時間分辨SEM： 這種SEM模式允許觀察樣品的動態過程，例如材料的生長、腐蝕和變形。
3D-SEM： 3D-SEM通過多次拍攝樣品的不同部分來構建三維圖像，從而提供更全的樣品信息。
低電壓SEM： 低電壓SEM使用較低能量的電子束，適用于敏感樣品，可以減小輻射損傷。
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作者：澤攸科技
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