掃描電鏡與傳統光學顯微鏡有什么區別？
日期：2023-06-20
掃描電鏡（SEM）和傳統光學顯微鏡在工作原理、分辨率、樣品準備和觀察方式等方面存在顯著的區別。
工作原理：傳統光學顯微鏡使用可見光或近紅外光來照明樣品，并通過透射光來觀察樣品的細節。而掃描電鏡則使用電子束來照射樣品，并測量由樣品表面產生的信號，例如次級電子和后向散射電子。
分辨率：光學顯微鏡的分辨率受到光的波長的限制，一般為幾百納米量級。而掃描電鏡利用電子束的波動性，具有較高的分辨率，通常可以達到納米級別，甚至亞納米級別。因此，掃描電鏡可以提供更高的圖像清晰度和更詳細的表面細節。
觀察模式：傳統光學顯微鏡是通過直接觀察透射光來獲取樣品信息，觀察過程是實時的。而掃描電鏡是通過對樣品表面進行掃描和信號檢測來獲取圖像，觀察是間接的，需要一定的時間來獲得圖像。
樣品準備：傳統光學顯微鏡對樣品準備的要求相對較低，通常只需將樣品放置在載玻片上即可。而掃描電鏡對樣品的準備較為復雜，通常需要對樣品進行表面涂層、真空處理或金屬化處理，以提高樣品的導電性和表面細節的清晰度。
應用領域：傳統光學顯微鏡在生物學、材料科學、藥學等領域具有廣泛應用，適用于對透明樣品和薄片的觀察。掃描電鏡在材料科學、納米技術、半導體工業等領域中得到廣泛應用，尤其適用于對非透明樣品、表面形貌和納米結構的觀察和分析。
以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡與傳統光學顯微鏡有什么區別。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢
TAG：
作者：澤攸科技
上一篇：掃描電鏡中的探針和探頭是什么？
下一篇：掃描電鏡的成像原理是怎樣的