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當(dāng)使用掃描電鏡（SEM）觀察非導(dǎo)電樣品（如生物樣本、陶瓷、高分子材料等）時(shí)，樣品帶電可能導(dǎo)致圖像模糊、偏移、亮度不均或漂移。以下是成因分析和有效的避免方法：

一、成因：為什么樣品會(huì)帶電？

掃描電鏡使用電子束照射樣品，若樣品為非導(dǎo)電或低導(dǎo)電材料，電子無(wú)法及時(shí)流走，便會(huì)在表面堆積，產(chǎn)生電荷積累。這會(huì)：

干擾電子束路徑，造成圖像漂移或模糊；

引起亮度忽明忽暗；

使圖像出現(xiàn)“條紋”、“陰影”或“鏡面效應(yīng)”。

二、如何避免樣品帶電造成的成像問(wèn)題？

1. 對(duì)樣品進(jìn)行金屬?lài)婂?/span>

常用且有效的方法：

在樣品表面噴一層金屬導(dǎo)電層，如金（Au）、鉑（Pt）、碳（C）等；

常使用離子濺射儀或真空蒸鍍儀；

金屬層厚度一般為幾納米至幾十納米，不影響細(xì)節(jié)成像。

2. 使用低電壓（低加速電壓）成像

將加速電壓調(diào)低至 1–5 kV，可以降低電子束穿透深度，減少電荷積累；

適用于表面觀察，減少樣品損傷。

3. 使用環(huán)境掃描電鏡（ESEM）或低真空模式

部分 SEM 支持 低真空或變量壓模式（如 ESEM）；

環(huán)境中微量氣體可中和電子，減少帶電；

可直接觀察非導(dǎo)電樣品，無(wú)需噴鍍。

4. 接地處理

若樣品形狀規(guī)則、易于接觸，建議將樣品表面接觸導(dǎo)電膠（如碳膠、銀膠）；

與樣品臺(tái)金屬形成良好電連接，使電荷可導(dǎo)出。

5. 減少電子束照射時(shí)間

縮短曝光時(shí)間；

避免在同一區(qū)域停留過(guò)久，減少電子積聚。

6. 使用導(dǎo)電膜覆蓋

對(duì)特殊樣品（如某些濕樣或柔軟材料），可采用一層導(dǎo)電聚合物膜或碳膜覆蓋；

不損傷樣品同時(shí)提供導(dǎo)電通道。