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校準掃描電鏡（SEM）的倍率是確保圖像尺寸測量準確可靠的關鍵步驟。SEM 的倍率校準通常涉及對已知尺寸的標準樣品進行成像，并與理論值進行對比與調整。以下是完整的校準流程和注意事項：

一、為什么要校準倍率？

雖然 SEM 顯示屏上會標出倍率（如 ×10,000、×50,000），但這個倍率是由掃描信號控制電壓與顯示尺寸的比例換算而來，可能因以下因素出現誤差：

放大器增益偏差

掃描電路老化

顯示設備分辨率變化

探測器延遲或漂移

顯示比例非線性

因此需定期校準，尤其是在進行尺寸測量、發表論文或生產質量控制時。

二、常用校準標準樣品

使用具有已知間距或圖案尺寸的標準樣品進行校準：

鍍金線柵樣品（Gold on Grating）

SiO?臺階結構

納米線陣列或聚焦離子束刻蝕標尺

國家或第三方標準參考樣片（如 NIST SRM）

例如：樣片上存在 1 μm 間距的格柵，你可以實際測量圖像中的像素尺寸并計算偏差。

三、校準步驟（以 X-Y 方向為例）

1. 準備工作

將標準樣品固定在樣品臺上；

選擇適當加速電壓（如 5–15 kV）；

調整合適工作距離（WD）；

聚焦、消除像差，確保圖像清晰。

2. 成像與測量

選擇常用倍率（如 ×10,000）；

拍攝圖像，使用圖像分析工具（如 SEM 軟件、ImageJ、或配套測量標尺）；

測量圖中兩個清晰標記之間的距離（單位：像素、μm）。

3. 計算倍率誤差

比較圖像中顯示的實際距離 vs. 樣品真實距離；

例如，真實間距為 1.00 μm，圖像測得 1.08 μm → 表示倍率偏小約 8%。

4. 修正倍率

若誤差在允許范圍內（通常 ±2–3% 以內），可以不做調整；

若超限，則需進入 SEM 設置菜單或聯系廠商服務人員修正掃描參數（例如修正掃描電壓增益）；

某些軟件允許輸入校正因子，系統會自動修正測量值。

四、注意事項

校準應分別對 X 和 Y 方向進行，尤其是在非等比掃描系統中；

校準倍率要在常用加速電壓和工作距離下進行；

每次硬件維修、升級或系統重啟后建議重新校準；

對于高倍率（如 >×100,000）的校準，應使用高分辨率樣品，并保持高穩定性；

有些掃描電鏡可通過自動校準模塊進行快速校準，但仍建議人工確認。