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掃描電鏡（SEM）拍攝圖像出現拖影（smearing、streaking 或 shadowing），通常表現為圖像邊緣模糊、重復輪廓或拉長的影子。這種現象會影響分辨率和圖像質量，可能由多種因素引起。以下是常見原因及對應解決方法：

一、樣品相關因素

樣品未固定牢固

樣品在掃描過程中發生微小移動，會造成拖影。

解決方法：使用導電膠、碳膠帶等將樣品牢牢固定。確保樣品臺穩固，避免震動。

樣品表面帶電（charging）

非導電樣品在電子束照射下積聚電荷，會導致圖像拖影或亮度漂移。

解決方法：

給樣品噴金、噴碳、鍍金屬等導電處理。

降低電子束電流或加快掃描速度。

使用低電壓成像（如 1~5 kV）或開啟 SEM 的“低真空”模式（若設備支持）。

二、設備設置因素

掃描速度太慢

長時間掃描若樣品略有漂移，會拉出明顯拖影。

解決方法：適當提高掃描速度，或在快掃圖像定位后，再用中速或慢速采集高質量圖像。

電子束聚焦不佳或掃描系統不穩定

聚焦失準、電子束漂移會導致圖像模糊或拖尾。

解決方法：

使用 Z 方向（工作距離）微調，再配合 Stigmator 校正。

確保加速電壓穩定，避免設備在啟動階段采集圖像。

三、環境干擾

機械震動

SEM 對震動非常敏感，輕微的地面或平臺晃動都可能造成圖像模糊或拖影。

解決方法：

檢查是否有外部震源（如空調、腳步、機械）。

使用防震平臺或調整 SEM 安裝位置。

電磁干擾

強電磁場可能干擾掃描系統，造成圖像異常。

解決方法：

檢查附近是否有電機、電源、大型電器或無線發射設備。

使用電磁屏蔽或改變設備擺放位置。