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臺(tái)式掃描電鏡（SEM）是一種強(qiáng)大的顯微鏡，可以用于高分辨率的表面成像和分析。以下是臺(tái)式掃描電鏡樣品處理的一般流程和注意事項(xiàng)：

樣品處理流程：

準(zhǔn)備樣品： 根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康模x擇合適的樣品，并確保它們干凈、整潔。非導(dǎo)電樣品需要進(jìn)行適當(dāng)?shù)那疤幚恚詼p輕充電效應(yīng)。

固定樣品： 使用導(dǎo)電膠、樣品夾或其他方法將樣品固定在SEM樣品臺(tái)上，確保樣品穩(wěn)定且與臺(tái)面良好接觸。

導(dǎo)電涂層（如果需要）： 對(duì)于非導(dǎo)電樣品，可以涂覆一層導(dǎo)電涂層，如金屬或碳，以減輕充電效應(yīng)。

真空脫氣： 如果需要，將樣品放置在真空脫氣室中，以減少樣品表面的氣體分子，減輕充電問題。

調(diào)整樣品位置： 使用樣品臺(tái)移動(dòng)功能將樣品位置調(diào)整到所需的位置，以便于觀察和分析。

調(diào)整焦距和對(duì)焦： 使用顯微鏡或SEM軟件來(lái)調(diào)整焦距，確保樣品處于清晰的成像狀態(tài)。

選擇成像參數(shù)： 根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康模x擇合適的電子束加速電壓、探針電流、掃描速度等成像參數(shù)。

成像： 開始成像過程，獲取所需區(qū)域的圖像。可以使用不同的成像模式，如二次電子成像和反射電子成像。

數(shù)據(jù)獲取： 根據(jù)需要，獲取表面形貌、元素分布等數(shù)據(jù)。

注意事項(xiàng)：

樣品清潔： 樣品表面的雜質(zhì)、塵埃或污漬會(huì)影響成像質(zhì)量，因此確保樣品表面干凈。

充電效應(yīng)： 對(duì)于非導(dǎo)電樣品，要注意充電效應(yīng)。可以使用導(dǎo)電涂層、低電子束能量等方法減輕充電效應(yīng)。

樣品尺寸： 樣品尺寸應(yīng)適合SEM樣品臺(tái)，并在臺(tái)面上穩(wěn)定固定。

避免損壞： 在操作過程中避免樣品與SEM部件的直接接觸，以防止損壞。

低真空模式： 對(duì)于一些樣品，使用低真空模式可以減少氣體分子的影響，有助于克服充電問題。

避免過度曝曬： 高電子束能量和持續(xù)曝曬可能會(huì)對(duì)樣品造成傷害，因此要避免過度曝曬。

記錄參數(shù)： 記錄用于成像的參數(shù)，以便能夠重復(fù)實(shí)驗(yàn)或分析。

樣品安全： 有些樣品可能具有毒性、放射性或其他安全風(fēng)險(xiǎn)，需要按照安全規(guī)定進(jìn)行處理。

電鏡維護(hù)： 在使用后，及時(shí)關(guān)閉SEM，進(jìn)行必要的清潔和維護(hù)，以保持設(shè)備的正常運(yùn)行。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的臺(tái)式掃描電鏡的樣品處理流程和注意事項(xiàng)。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢