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掃描電鏡（SEM）分析和傳統顯微鏡觀察在原理和觀察能力上存在一些區別。以下是它們之間的主要區別：

原理：傳統顯微鏡使用可見光或透射電子來觀察樣品。它們通過透過樣品的光或電子束來產生放大的圖像。而掃描電鏡使用電子束掃描樣品表面，并檢測所產生的信號來生成圖像。SEM的圖像是通過測量電子束與樣品表面之間的相互作用而生成的。

放大倍率：傳統顯微鏡的放大倍率通常較低，一般在幾十到幾千倍之間。而掃描電鏡具有更高的放大倍率，可以達到幾百倍到幾十萬倍，甚至更高。這使得SEM能夠觀察更小尺寸的細節和微觀結構。

深度感知：傳統顯微鏡提供的是透視圖像，只能觀察樣品的表面或透明薄片的部分。而掃描電鏡通過掃描樣品表面，可以獲取樣品表面的三維形貌信息，提供更深入的觀察。

分辨率：掃描電鏡通常具有更高的分辨率。傳統光學顯微鏡的分辨率受限于可見光的波長，一般在幾百納米到幾微米范圍內。相比之下，掃描電鏡的分辨率可以達到亞納米級別，可以顯示更小尺寸的細節。

顯示模式：傳統顯微鏡通常提供實時的直接視覺觀察，觀察者可以直接通過目鏡或眼睛觀察樣品。而掃描電鏡的觀察通常是通過電子束與樣品的相互作用產生的信號，通過探測器轉換成圖像，并在計算機屏幕上顯示。

樣品要求：傳統顯微鏡通常可以直接觀察生物組織、液體樣品或透明樣品。而掃描電鏡需要對樣品進行特殊的處理和準備，樣品須具有導電性或經過導電處理，因為SEM使用電子束與樣品表面相互作用來生成圖像。

ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡分析與傳統顯微鏡觀察的區別。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢