掃描電鏡放大倍數計算方式
日期：2023-04-21
掃描電鏡是一種高分辨率顯微技術，可以通過掃描樣品表面并探測樣品表面反射、散射的電子信號來獲得樣品表面形貌、結構和組成等信息。掃描電鏡可以通過改變電子束的聚焦和放大倍數來調節(jié)圖像的放大程度，下面是掃描電鏡放大倍數計算方式的簡要介紹。
SEM圖像的放大倍數通常分為實際放大倍數和顯示放大倍數兩種。
實際放大倍數 = 探測器到樣品距離 / 樣品上所顯示的實際長度
探測器到樣品距離指的是電子槍和樣品之間的距離，這個距離可以由SEM中的聚焦系統(tǒng)調節(jié)，探測器到樣品距離越小，則實際放大倍數越大。
樣品上所顯示的實際長度可以由樣品尺寸進行測量得到，例如SEM圖像中一條線的長度可以通過顯微鏡測量尺寸得到。
顯示放大倍數是SEM圖像在顯示器上顯示的放大倍數，通常是實際放大倍數的一個固定倍數，可以由SEM中的圖像處理系統(tǒng)進行調節(jié)。例如，如果實際放大倍數是1000，顯示放大倍數是2000，則SEM圖像在顯示器上顯示的放大倍數是2000。
需要注意的是，SEM中的放大倍數是指圖像的線性放大倍數，即圖像中一個單位長度在樣品上所對應的長度，而不是面積放大倍數或體積放大倍數。因此，在使用SEM進行圖像分析和測量時，需要了解和計算實際放大倍數和顯示放大倍數。
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作者：澤攸科技
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