掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用
日期：2022-12-23
材料組織或表面形貌觀察
應(yīng)用：氧化鋁陶瓷表面形貌、高速鋼中的碳化物組織、高分子心血管支架、人造金剛石形貌、鋁合金組織深腐蝕形貌、摩擦磨損形貌等。
材料斷口分析及失效分析
應(yīng)用：鋼鐵沿晶斷口、鋼鐵疲勞斷口、解理斷口、韌窩等。
納米材料的表征
應(yīng)用：納米氧化錚陣列、銀納米線、石墨烯的介孔結(jié)構(gòu)、石墨烯層片狀結(jié)構(gòu)等。
晶粒大小及顆粒粒度等尺寸統(tǒng)計(jì)
應(yīng)用：鋼鐵馬氏體組織、氧化鋁顆粒等。
相鑒別
利用背散射電子不僅可觀察形貌像，還可定性分析成分組成及各組分的分布，結(jié)合EDS可對樣品中復(fù)雜夾雜物的形狀、組成、分布等進(jìn)行精細(xì)研究。
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作者：澤攸科技
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