針對清潔度分析的掃描電鏡制樣經驗分享
日期：2022-06-20
針對清潔度分析的掃描電鏡制樣經驗分享，談起來清潔度的分析，光學顯微鏡和電子顯微鏡是清潔度分析領域常用的兩種儀器，那么這兩種分析方法有什么區(qū)別呢？澤攸科技小編給您介紹一下。
從使用條件來看：
光學顯微鏡的信號源是可見光的，可見光的波長較長，可以輕松繞過空氣分子，因此可以在大氣環(huán)境下運行。
掃描電鏡的信號源是電子束，相對于可見光，電子束的波長*短，所以分辨率*高，圖像*清晰；不過，較短的波長，繞過空氣分子的能力將會變差，因此掃描電鏡sem內部會通過多級真空泵，將空氣分子抽走，以維持一定的真空度。
從測試結果來看：
光學顯微鏡由于其價格低廉、操作簡單在清潔度分析領域得到了廣泛應用。在光學顯微鏡下，金屬顆粒會有一定的反光，非金屬顆粒不反光，因此光學顯微鏡可以根據顆粒是否反光，來大致區(qū)分金屬和非金屬，但是局限性是光學顯微鏡無法分析出具體是哪一種類的顆粒。
掃描電鏡除了可以找到雜質顆粒外，還可以分析顆粒的種類。通過搭配能譜探測器，通過能譜信號，進一步給出顆粒的元素種類和含量信息，進而對照數據庫，就能判斷出顆粒的種類。例如：在汽車領域，硬質顆粒*受關注，因此希望區(qū)分出 SiO2、Al2O3、W等；在鋰電領域，金屬顆粒*受關注，如 Cu、Zn、Fe 等；
那么掃描電鏡sem和清潔度分析對樣品分別有什么要求呢？
掃描電鏡對制樣的要求：粉末樣品一定要粘牢，未粘牢的顆粒需要用洗耳球或壓縮空氣吹掃干凈。因為固定不牢的顆粒在抽真空過程中會飄浮起來，會污染光路，嚴重者甚至可撞破能譜探測器的探頭，對掃描電鏡sem會造成一定的損壞。
清潔度分析對制樣的要求：清潔度分析的樣品為濾膜，濾膜樣品不能吹掃。因為部分顆粒物靠重力落在濾膜上，吹掃會損失這部分顆粒，會造成結果的不準確的事情發(fā)生。
因此，掃描電鏡的安全性和清潔度分析的準確性產生了矛盾，前者要吹掃，后者不能吹掃，那么該如何解決這一矛盾呢？
兼顧掃描電鏡sem安全性和清潔度分析準確性的制樣方法：濾膜顆粒固定法
為了解決上面的矛盾，我們分享一套簡單有效的方法：濾膜顆粒固定法。將配置好的固定液，滴在錫箔紙上并涂勻，將濾膜平鋪在固定液上。由于毛細現象，固定液會順著濾膜微孔滲到濾膜上表面，將濾膜顆粒固定。
該方法的固化時間為 20 分鐘，每個濾膜的制樣成本不到 0.5 元。
該固定方法，可將顆粒和纖維固定在濾膜上，同時固定液不會漫過顆粒。因此，很好地解決了掃描電鏡的安全性和清潔度分析的準確性之間的矛盾！
以上就是澤攸科技小編對于針對清潔度分析的掃描電鏡制樣經驗分享，如果您還有其它掃描電鏡問題，歡迎您咨詢
作者：澤攸科技