掃描電鏡和透射電鏡有何不同？

掃描電鏡和透射電鏡是兩種不同類型的顯微鏡，都用于觀察微觀結構，但它們的工作原理、成像方式以及適用范圍有很大的不同。

如何避免掃描電鏡成像中的充電效應？

掃描電鏡成像中的充電效應是指由于電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的表面電荷積累，從而導致成像問題，如圖像失真、形變、模糊等。

在掃描電鏡中，樣品表面電荷的積累可能會導致圖像的產(chǎn)生模糊、形變或噪聲等問題。

傳統(tǒng)的掃描電鏡是一種使用電子束而不是光束的顯微鏡，因此無法直接獲取樣品的真實深度信息。

掃描電鏡圖像的空間分辨率校準是確保您能夠準確測量圖像中各種特征的大小的關鍵步驟之一。

在掃描電鏡（SEM）中實現(xiàn)橫截面觀察通常需要使用樣品制備和儀器操作的特定技術。

掃描電鏡（SEM）的加速電壓是指加速電子束的能量。加速電壓的選擇會直接影響SEM圖像的質(zhì)量和特性。

定量分析掃描電鏡圖像可以提供關于樣品表面特征的定量信息，如顆粒大小、紋理分布、孔隙度等。