如何調整掃描電鏡的光闌獲得更清晰的圖像？
在掃描電鏡 (SEM) 中，調整光闌 (Aperture) 是提升圖像清晰度、對比度和景深的關鍵步驟。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-07
在掃描電鏡 (SEM) 中，調整光闌 (Aperture) 是提升圖像清晰度、對比度和景深的關鍵步驟。
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在掃描電鏡 (SEM) 中使用低電壓成像 (Low Voltage Imaging) 是一種有效方法，尤其適合觀察非導電樣品、表面細節以及減少樣品損傷和充電效應的問題。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-07
判斷掃描電鏡 (SEM) 的電子槍 (Electron Gun) 是否需要更換，通常可以通過以下幾個方面進行評估：
MORE INFO → 行業動態 2025-03-06
在掃描電鏡 (SEM) 中，使用低真空模式 (Low Vacuum Mode) 觀察非導電樣品的目的是為了避免樣品表面的電荷積累問題，同時無需復雜的導電處理（如噴金或碳涂層）。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-06
在掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像過程中，樣品上的污染物會嚴重影響成像質量和分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-05
在掃描電鏡（SEM）中，電磁透鏡的作用主要是用來聚焦和控制電子束，使其能夠精準地掃描樣品表面，從而獲得高分辨率的圖像和精確的分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-05
在掃描電鏡（SEM）中，掃描模式 是決定如何對樣品表面進行電子束掃描的設置。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-04
選擇掃描電鏡（SEM）的探測器對于獲得高質量圖像至關重要。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-04