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掃描電鏡（SEM）通常用于觀察導電樣品，因為在常規的SEM操作中需要對樣品進行金屬導電涂層，以確保樣品表面電荷的平衡和電子的傳導。然而，對于非導電樣品，可以采取以下方法來進行觀察：

金屬導電涂層：對于非導電樣品，可以使用金屬導電涂層來提高樣品的導電性。常用的導電涂層材料包括金、鉑、銀等。通過在樣品表面均勻涂覆薄層的導電材料，可以改善樣品的導電性，從而使電子能夠傳導到樣品表面，實現SEM觀察。

環境SEM（Environmental SEM）：環境SEM可以在相對高壓下進行觀察，利用水蒸汽或氮氣等氣體來保護非導電樣品。環境SEM在觀察生物樣品、植物組織、聚合物等非導電樣品方面具有優勢，因為它們無需進行導電涂層。

低真空模式：某些SEM系統具備低真空模式，允許在較低的真空條件下觀察非導電樣品。這種模式下，可以通過調節工作壓力和控制電子束的能量來減小電子與樣品之間的相互作用，從而避免非導電樣品的電荷積聚和漂移。

樣品制備技術：對于某些非導電樣品，可以采用特殊的樣品制備技術來增加其導電性。例如，通過切割、打磨、刻蝕等方法，可以在樣品表面形成導電層或導電區域，以便進行SEM觀察。

需要注意的是，對于非導電樣品的SEM觀察，仍然存在一些挑戰，如導電涂層的均勻性、樣品形貌的保持等。因此，在進行非導電樣品的SEM觀察時，選擇合適的方法和技術非常重要，以確保獲得準確和可靠的圖像和數據。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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