掃描電鏡和透射電鏡有何不同？

掃描電鏡和透射電鏡是兩種不同類型的顯微鏡，都用于觀察微觀結(jié)構(gòu)，但它們的工作原理、成像方式以及適用范圍有很大的不同。

如何避免掃描電鏡成像中的充電效應(yīng)？

掃描電鏡成像中的充電效應(yīng)是指由于電子束與樣品相互作用產(chǎn)生的表面電荷積累，從而導(dǎo)致成像問題，如圖像失真、形變、模糊等。

在掃描電鏡中，樣品表面電荷的積累可能會導(dǎo)致圖像的產(chǎn)生模糊、形變或噪聲等問題。

傳統(tǒng)的掃描電鏡是一種使用電子束而不是光束的顯微鏡，因此無法直接獲取樣品的真實深度信息。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品桿的多軸定位是指能夠在多個方向上移動和旋轉(zhuǎn)樣品，以實現(xiàn)更復(fù)雜的樣品定位和觀察需求。

樣品桿的手動和自動控制是指在掃描電子顯微鏡（SEM）中，用于安裝、移動和調(diào)整樣品的兩種不同的操作方式。

樣品桿是掃描電子顯微鏡（SEM）中用于安裝和固定樣品的部件。

掃描電鏡圖像的空間分辨率校準(zhǔn)是確保您能夠準(zhǔn)確測量圖像中各種特征的大小的關(guān)鍵步驟之一。