如何通過掃描電鏡實現三維表面重建和虛擬切片？

通過掃描電子顯微鏡（SEM）可以實現三維表面重建和虛擬切片，這需要使用多張二維圖像和圖像處理軟件。

如何通過掃描電鏡對材料表面形貌進行定量分析？

通過掃描電子顯微鏡（SEM）進行材料表面形貌的定量分析是一種常見且有效的方法。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個常見的問題。當樣品處于高真空環境下，并且受到來自電子束的照射時，可能會發生表面電子的發射和重新組合，導致樣品表面帶電。這會導致圖像失真、信號衰減以及可能損害樣品。

臺式掃描電鏡（SEM）的樣品轉臺支持的角度范圍可以因不同的型號和廠家而異，但通常在一定角度范圍內具有一定的轉動能力。

臺式掃描電鏡（SEM）的工作模式是連續波模式，而不是脈沖波模式。

傳統的掃描電子顯微鏡通常不能用于觀察活細胞。

掃描電子顯微鏡圖像可以通過數字圖像處理和增強來改善圖像質量，增加細節和對比度，并提供更多有關樣本的信息。

在掃描電子顯微鏡中，電子束照射對樣本可能造成多種損傷，特別是在高能量電子束下。