掃描電鏡圖像大小受距離影響么
日期：2024-05-24
掃描電鏡（SEM）圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離（工作距離）的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。
在SEM中，電子束從電子槍中產生并聚焦到樣品表面，然后經過探測器進行信號采集。電子束的聚焦和成像是通過在樣品和電子槍之間的電場進行調節來實現的。工作距離是指樣品表面到電子槍的距離，它直接影響了電子束的聚焦和成像。
當工作距離發生變化時，電子束在樣品表面的聚焦效果也會發生變化，進而影響到圖像的大小和清晰度。通常情況下，當工作距離增加時，電子束會擴散并失去焦距，導致圖像變得模糊并且可能會出現尺寸變化。相反，當工作距離減小時，電子束會更好地聚焦在樣品表面上，圖像將更清晰并且尺寸可能會變小。
因此，在進行SEM圖像采集時，需要盡量保持恒定的工作距離，以確保獲得一致和可比較的圖像。此外，還應該在進行圖像分析和測量時考慮到工作距離的影響，以確保獲得準確的結果。
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作者：澤攸科技
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