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分析掃描電鏡（SEM）圖像中的粒徑大小通常需要借助圖像處理和分析軟件。以下是一種常見的方法：

圖像預(yù)處理： 首先，需要對SEM圖像進行預(yù)處理，以準備進行粒徑分析。這可能包括去除背景噪音、調(diào)整對比度和亮度等操作，以確保圖像質(zhì)量和準確性。

閾值分割： 接下來，可以使用閾值分割方法將圖像轉(zhuǎn)換為二值圖像，其中粒子部分被標記為白色，背景部分被標記為黑色。閾值選擇的適當性對于準確分割粒子非常重要。

粒徑測量： 一旦圖像被分割成粒子和背景兩部分，就可以使用圖像分析工具來測量粒子的大小。常見的粒徑測量方法包括：

基于形態(tài)學(xué)的操作： 可以使用形態(tài)學(xué)操作（如膨脹、腐蝕、開運算、閉運算等）來處理二值圖像，以消除噪聲并連接粒子邊緣。然后，可以使用連通區(qū)域分析（connected component analysis）來識別和測量各個粒子的大小。

邊界檢測： 可以使用邊緣檢測算法（如Sobel、Canny等）來檢測粒子的邊界，并根據(jù)邊界信息計算粒子的直徑或面積。

圓形擬合： 對于近似圓形的粒子，可以對其進行圓形擬合，并從擬合結(jié)果中提取直徑信息。

統(tǒng)計分析： 可以對測量到的粒徑數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析，如計算粒徑分布、平均粒徑、標準差等。

需要注意的是，粒徑分析的精度和準確性取決于圖像的質(zhì)量、分割的準確性以及所選擇的分析方法。因此，在進行粒徑分析之前，建議對圖像和分析過程進行充分的驗證和優(yōu)化。

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