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掃描電子顯微鏡（SEM）的操作流程通常包括以下步驟：

準備樣品：

樣品制備：將待觀察的樣品制備成適當的形狀和大小，并確保其表面光滑、干凈。

導電處理：對非導電性樣品進行導電處理，以避免電荷積聚影響成像質量。

安裝樣品：

安裝樣品支架：將樣品放置在樣品支架上，并使用導電膠或夾具將其固定在位置上。

調整樣品位置：調整樣品位置和角度，使其處于高質量成像位置，并確保與電子束的路徑正交。

真空抽氣：

打開真空系統：啟動掃描電鏡，并打開真空系統，開始真空抽氣。

穩定真空度：等待真空度穩定達到工作要求，通常在高真空狀態下工作。

調節參數：

設置加速電壓：根據樣品性質和所需分辨率，設置合適的加速電壓。

調節工作距離：調節電子槍和樣品之間的工作距離，以保持適當的成像條件。

選擇探針尺寸：根據需要選擇合適的探針尺寸，以平衡分辨率和信號強度。

對焦和對準：

對焦樣品：使用透射電鏡或圖像對焦功能，調整電子束的焦點，使其聚焦在樣品表面。

對準樣品：通過微調樣品位置和角度，確保電子束垂直撞擊樣品表面。

開始成像：

啟動成像程序：選擇成像模式和參數，并啟動成像程序，開始獲取圖像。

捕獲圖像：根據需要調整掃描速度和圖像質量，捕獲樣品表面的圖像。

分析和保存：

圖像分析：對獲取的圖像進行分析和處理，測量尺寸、形狀，分析表面形貌等。

結果保存：根據需要保存圖像和分析結果，并記錄相關參數和觀察條件。

關閉設備：

關閉成像程序：完成成像任務后，關閉成像程序并停止電子束。

關閉真空系統：關閉真空系統，并按照操作規程安全關閉設備。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的操作流程。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢