臺式掃描電鏡的探測方式有哪些
日期：2024-03-13
臺式掃描電鏡通常采用多種不同的探測方式，以適應不同的觀察和分析需求。以下是常見的臺式掃描電鏡的探測方式：
二次電子像（SEI）：二次電子像是常見的掃描電鏡圖像類型之一。它們反映了樣品表面的拓撲形貌和表面特征。二次電子像通常具有較高的表面分辨率和對比度。
反射電子像（REI）：反射電子像是由樣品表面反射的高能電子形成的。這種圖像對于觀察導電性較差的樣品（如生物樣品、聚合物等）很有用。
透射電子像（TEI）：透射電子像是由透過薄樣品的電子形成的。這種圖像適用于觀察材料內部的微觀結構和成分。
背散射電子像（BSEI）：背散射電子像是由樣品中的背散射電子形成的。這種圖像對于觀察材料的成分分布和密度變化很有用。
能譜分析（EDS）：能譜分析是一種通過探測樣品中的X射線來確定其化學成分的方法。在掃描電鏡中，常使用能譜儀進行能譜分析，以獲取樣品的元素分布和組成信息。
電子衍射：電子衍射是一種通過測量樣品衍射圖樣來確定其晶體結構的方法。在掃描電鏡中，可以利用電子衍射技術來研究材料的晶體學性質。
顯微X射線熒光（Micro-XRF）：顯微X射線熒光技術可以用于獲取樣品表面的元素分布和含量信息。在掃描電鏡中，通常結合X射線熒光探測器進行顯微X射線熒光分析。
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作者：澤攸科技
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