如何在掃描電鏡中進(jìn)行大面積樣品的自動(dòng)化掃描

在掃描電鏡（SEM）?中進(jìn)行大面積樣品的自動(dòng)化掃描通常需要以下步驟和技術(shù)：

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-09

如何通過調(diào)節(jié)加速電壓優(yōu)化掃描電鏡中的深度分辨率

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，加速電壓對(duì)電子束的穿透深度和樣品的表面和深度信息分辨率有顯著影響。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-06

掃描電鏡的聚焦電流如何影響分辨率和圖像清晰度

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，聚焦電流（或稱束流強(qiáng)度）對(duì)分辨率和圖像清晰度有著重要影響。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-06

掃描電鏡中的圖像偽影如何通過優(yōu)化成像參數(shù)進(jìn)行消除

在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會(huì)影響圖像的質(zhì)量和分析的準(zhǔn)確性。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-05

掃描電鏡的二次電子探測器如何影響圖像對(duì)比度

在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設(shè)備之一，它通過探測從樣品表面發(fā)射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來構(gòu)建圖像。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-05

相約深圳丨澤攸科技誠邀您參加CIOE2024中國光博會(huì)

2024年9月11-13日，第二十五屆中國國際光電博覽會(huì)（CIOE中國光博會(huì)）將在深圳國際會(huì)展中心舉辦，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器及新微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案亮相6D91、6D92展位，我們期待著與各位新老朋友們見面，也希望通過此次機(jī)會(huì)與業(yè)內(nèi)同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發(fā)展。

MORE INFO → 公司新聞 2024-09-04

掃描電鏡的光束調(diào)制如何影響分辨率和成像速度

在掃描電鏡（SEM）?中，光束調(diào)制是指通過調(diào)整電子束的各種參數(shù)（如束流強(qiáng)度、掃描速度、加速電壓等）來影響成像的過程。

MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2024-09-04

如何在掃描電鏡中進(jìn)行高真空條件下的非導(dǎo)電樣品成像

在掃描電鏡（SEM）?中對(duì)非導(dǎo)電樣品進(jìn)行高真空條件下的成像可能會(huì)遇到電荷積累問題，這會(huì)導(dǎo)致圖像失真甚至損壞樣品。