臺式掃描電鏡對非導電粉末樣品的制備方法

掃描電鏡 SEM通常用于觀察非導電的粉末樣品，如生物樣品、陶瓷粉末、聚合物顆粒等。由于非導電樣品在SEM中容易產生靜電荷，導致圖像噪聲或樣品表面的充電效應，因此在制備非導電粉末樣品時需要采取一些特殊的方法。

掃描電鏡樣品濺射噴金流程

掃描電鏡（SEM）樣品的濺射噴金方法是一種常用的制備非導電樣品的方法，它通過在樣品表面噴涂一層金屬涂層，從而提高樣品的導電性，使其適用于SEM觀察。

第二十屆中國國際科學儀器及實驗室裝備展覽會（CISILE 2023）定于2023年5月10-12日在北京·國家會議中心舉辦，澤攸科技攜ZEM系列掃描電鏡，JS系列臺階儀器等全系列產品隆重亮相本屆展會。

手動臺階儀是一種用于三維尺寸測量的儀器。它通常由三個可移動的軸向組成，分別是X軸、Y軸和Z軸，通過手動操作儀器的操作手柄或旋鈕，將探測器移動到需要測量的位置，完成三維尺寸的測量。

掃描電鏡是一種高分辨率顯微技術，可以通過掃描樣品表面并探測樣品表面反射、散射的電子信號來獲得樣品表面形貌、結構和組成等信息。

鎢絲燈掃描電鏡，是一種應用于材料科學、生物學、電子學等領域的高分辨率顯微技術。

臺階儀是一種用于測量物體表面形貌和表面粗糙度的儀器。它可以通過掃描樣品表面并測量表面高度變化，以創建具有亞微米到微米級分辨率的三維表面形貌圖像。