《Nano Lett》：澤攸科技樣品桿應用于CNTs缺陷調控
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中精確調節CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調節精確、過程可逆并且還具有較高重復性，對基于CNTs的諧振器器件研發意義重大。
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中精確調節CNTs缺陷的技術。這種技術不僅調節精確、過程可逆并且還具有較高重復性，對基于CNTs的諧振器器件研發意義重大。
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
澤攸科技原位TEM-STM系統原位焊接，中國石油大學、燕山大學和西安交通大學聯合公開了一項在環境透射電子顯微鏡（ETEM）中利用原位亞納米操縱探針實現納米陶瓷材料焊接的技術，相關研究成
MORE INFO → SEM原位解決方案 2020-09-23
澤攸科技原位TEM樣品桿在二維儲能，為了弄清楚幾何位點在鋰/鈉離子電池中發揮的作用，研究者們應用了原位X射線衍射、原位X射線吸收、原位拉曼光譜、原位紅外光譜、原位核磁共振等等研究
MORE INFO → SEM原位解決方案 2018-08-15
原位透射電子顯微鏡光學-光電測量系統應用案例，ZnO是一種重要的II-VI族半導體材料。它擁有高達60 meV的激子結合能，以及25 meV的熱激活能。ZnO納米線可以被用于制造導波管，納米激光器，光探
MORE INFO → SEM原位解決方案 2017-12-20
原位透射電子顯微鏡光學-光電測量系統應用案例,CdS和ZnO都具有優秀的光電性能，被認為在光電探測器等領域有著廣闊的應用前景。但是，CdS一維材料存在低量子效率和低響應速度等問題，ZnO納
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